SERVIZIO DI COLLAUDO ICT DI SCHEDE ELETTRONICHE 
IN CIRCUIT TEST

con sistema ATE a letto d'aghi SPEA EASYTEST 100A

e con sistema ATE Flying Probe SPEA FP4040

 
sema elettronica progetta e realizza, per conto terzi, i programmi e le fixture per l'esecuzione del collaudo parametrico e funzionale di schede elettroniche, da impiegare su stazioni di collaudo a letti d'aghi SPEA della serie EASYTEST 100-500.

sema elettronica esegue, per conto terzi, il collaudo parametrico e funzionale sul sistema EASYTEST 100A.

 
Attraverso l'interfaccia a letto d'aghi è possibile eseguire il collaudo IN CIRCUIT parametrico e funzionale delle schede, con identificazione del guasto a livello di componente anche alimentando la scheda collaudata.

La strumentazione disponibile su EASYTEST 100A consente di eseguire efficaci collaudi cluster o funzionali a livello di componente, con la stampa dei report di collaudo e permette la certificazione finale del prodotto.


Basato sull'architettura parallela multi-processore GAX, EASYTEST 100A è in grado di eseguire oltre 700 misure in un secondo, con stabilità ed elevata precisione dei valori misurati.

Un ulteriore vantaggio garantito dall'uso dell'architettura GAX, consiste nella capacità di collaudo polifunzionale, che consente di impiegare EASYTEST 100A nel test delle più varie tipologie di prodotti, misti analogico-digitali o essenzialmente analogici.

Per soddisfare la crescente necessità di collaudi di piccole e medie serie di schede elettroniche, sema elettronica propone l'esecuzione del collaudo ICT parametrico ed alimentato sul sistema di collaudo a sonde mobili SPEA FLYING PROBE 4040.


Il sistema Flying Probe FP4040 permette di effettuare il collaudo completo della scheda con una alta produttività ed è concepito per collaudare schede realizzate con le tecnologie SMT, fine-pitch e BGA, anche quando l'accesso ai nodi attraverso letto d'aghi risulta impossibile.

La caratteristica principale di questo sistema di test è la flessibilità di utilizzo, che rende possibile sia il collaudo del prototipo che quello della produzione in serie medio-alte.
Il programma di test viene sviluppato applicando differenti tecniche di misura quali:

- Test Analogico In Circuit

- Test Analogico alimentato

- Test Ottico · Test Open Pin

- Test Parametrico

L'azienda può fornire, in breve tempo, preventivi per l'effettuazione del collaudo di schede elettroniche costruite in tecnologia SMT, through hole o mista.